《UL PCB 性能與可靠度測試系列課程 3-2》研討會 – 台北場
December 15, 2015 - December 15, 2015 | Taipie, Taiwan
隨著人類生活的全面電子化，不論是玩具、汽車、手機、網路、雲端伺服器、乃至於穿戴裝置與隨身醫療配件，印刷電路板都是產品內不可缺少的零件，帶著重要的角色。。面對消費者需求的產品好用度是否等同於製造商認為的高品質產品，這值得製造商深思。
為提供印刷電路板上下游提供更完成的產品規範測試及檢驗服務，UL除了在台灣設立可靠度實驗室，更將同步推出系列課程，幫助製造商在測試前諮詢與設計輔導，以及測試後的失效分析找出關鍵問題根源，有助優化產品，在競爭市場中成為焦點。
歡迎您撥冗一同參與本難得的研討會場次。若需更多資訊，敬請洽詢本活動聯絡人員。
為鼓勵廠商參與，凡參加完整系統課程，將會獲得UL性能測試開案折扣卷。
• 紀小姐 T: +886.7737.3000 x62396 / E: Christy.Chi@ul.com
• 連小姐 T: +886.7737.3000 x62061 / M: +886.919.218.721 / E: Fanny.Lien@ul.com
課程暨報名資訊
- 日期：2015 年 12 月15日下午 (星期二, 台北場) / 2015 年 12月 16日下午(星期三, 高雄場)
- 地點：高雄場 – 高雄福華飯店 (七樓金鳳廳) / 台北場：UL 台灣三樓訓練教室 (台北市北投區大業路 260 號 3 樓 *捷運奇岩站)
- 報名方式：請於12月10 日前按報名連結進行報名
- 費用：免費 (座位有限，一家公司每廠區限額兩名，請儘早報名以利席位的保留)
- 議程：
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時間Time 課程 Agenda 講師 Speaker 13:00~13:25 與會者報到 13:25~13:30 致歡迎詞 13:30~14:20 CAF(導電陽極絲增長) 失效分析 : – 失效現象分析
– 問題與製程解析
吳浚溢 Gallen Wu (Program Manager)
14:20~14:30 休息一下 14:30~15:20 訊號完整性(SI) : – 訊號完整性(SI)原理簡介
– 訊號完整性(SI)對PCB的影響
林孟萱 Lena Lin
(Project Engineer)15:20~15:30 休息一下 15:30~16:20 IST(互連應力測試) 失效分析 : – 失效現象分析
– 問題與製程解析
吳浚溢 Gallen Wu (Program Manager)
16:20~16:30 互動問答 - 主辦單位：UL (優力安全認證)
- 備註：
- 本活動恕無法為未能準時報到或當天無法出席者保留講義及座位。
- 現場報名者，主辦單位將視現場狀況保有開放進場與否之權力。
- 本次活動若適逢天災 (地震、颱風等) 不可抗拒之因素，取消或延期舉辦，時間另行通知。
- 若因不可預測之突發因素，主辦單位得保留研討會課程變更權力。
- 主辦單位保留報名資格的審核權力，並將於活動前以 email 方式寄發「報到通知單」。
- 為避免資源泿費，若報名當日未能參加且未於三日前告知主辦單位，主辦單位有權保留往後參與課程之權力